<pre id="njjnn"><ruby id="njjnn"><var id="njjnn"></var></ruby></pre>

        <pre id="njjnn"></pre>
        <p id="njjnn"></p>
        <pre id="njjnn"></pre>
        <p id="njjnn"><mark id="njjnn"><thead id="njjnn"></thead></mark></p>

        <ruby id="njjnn"></ruby>
          <p id="njjnn"></p>
          咨詢熱線
          18521090096
          PRODUCTS/ 產品展示
          首頁  >  產品展示  >    >  熱學分析儀器  >  Nanotest TIFAS IR熱成像法失效分析儀

          Nanotest TIFAS IR熱成像法失效分析儀

          簡要描述:Nanotest是柏林熱管理材料表征和電子器件可靠性分析聯合實驗室的一員,該實驗室與開姆尼茨工業大學、勃蘭登堡工業大學和弗勞恩霍夫協會電子納米系統研究所齊名,聚焦于熱管理材料表征和電子器件可靠性分析領域,是歐洲相關領域主要的儀器供應商之一。
          Nanotest TIFAS IR熱成像法失效分析儀

          • 產品型號:TIFAS-IR
          • 廠商性質:其他
          • 更新時間:2023-02-20
          • 訪  問  量:696
          產品目錄/ PRODUCT MENU
          相關文章/ ARTICLES
          詳細介紹

          Nanotest  TIFAS IR熱成像法失效分析儀

          638125017769707838569.jpg

               當熱量從器件發熱點(源)向環境中傳遞過程中,偶爾會遇到一些熱的阻礙物,通常這些熱阻礙物會非常嚴重的影響器件的可靠性。通過直接觀察熱的產生和其傳遞的路徑是發現這些缺陷癥狀的有效方法。

                  TIFAS IR是一個高度集成的桌面型紅外熱成像法失效分析儀,可應用于幾乎所有材料的失效分析。通過觀察電子器件、系統、復合物、多層聚合物或燒結零配件的全波段光譜來判斷其綜合結構,如雜質、缺陷以及形貌等。


          技術參數:

          測試時間:1-10 s

          IR相機像素:382*288px (可提供更寬范圍)

          觀測區域:95 mm x 123 mm(可提供更寬范圍)


          產品咨詢

          留言框

          • 產品:

          • 您的單位:

          • 您的姓名:

          • 聯系電話:

          • 常用郵箱:

          • 省份:

          • 詳細地址:

          • 補充說明:

          • 驗證碼:

            請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7

          聯系電話:
          021-67898557

          微信掃一掃

          国产一区二区三区在线视頻,亚洲av日韩综合一区久热,国一国二国三久久久精品,免费有黄的视频视频

            <pre id="njjnn"><ruby id="njjnn"><var id="njjnn"></var></ruby></pre>

                <pre id="njjnn"></pre>
                <p id="njjnn"></p>
                <pre id="njjnn"></pre>
                <p id="njjnn"><mark id="njjnn"><thead id="njjnn"></thead></mark></p>

                <ruby id="njjnn"></ruby>
                  <p id="njjnn"></p>